日置阻抗分析儀的測(cè)量模式
點(diǎn)擊次數(shù)：1045 更新時(shí)間：2019-04-26
日置阻抗分析儀是適用于元件和電路有效阻抗測(cè)量和分析的集成解決方案。覆蓋了很寬的測(cè)試頻率范圍(40Hz至110MHz)，具有±0.08%的基本阻抗精度。其優(yōu)異的高Q值/低D值精度使其能分析低損耗元件。其寬信號(hào)電平范圍可用于在實(shí)際工作條件下評(píng)估器件。測(cè)試信號(hào)電平范圍為5mV至1Vrms或200uA至20mArms，直流偏置范圍為0V至±40V或0mA至±100mA。*校準(zhǔn)和誤差補(bǔ)償功能避免了進(jìn)行夾具內(nèi)器件測(cè)量時(shí)的測(cè)量誤差。
日置阻抗分析儀具備高精度、速度，且經(jīng)濟(jì)型多功能，能夠執(zhí)行的元件測(cè)試?？纱钆銬C Bias 機(jī)型。人性化操作介面設(shè)計(jì)同步于趨勢(shì)，簡(jiǎn)單操作快速導(dǎo)入產(chǎn)線。多項(xiàng)參數(shù)同時(shí)測(cè)是只需一次設(shè)定，一次同時(shí)顯示。高精密值的量測(cè)數(shù)據(jù)的功效，為元件和材料*的測(cè)試儀器。
日置阻抗分析儀測(cè)量模式：
1.LCR模式：?jiǎn)晤l點(diǎn)條件下測(cè)量
2.分析儀模式：掃頻測(cè)量,等效電路分析
3.連續(xù)測(cè)量模式：用所保存的條件下進(jìn)行連續(xù)測(cè)量
日置阻抗分析儀能在阻抗范圍和寬頻率范圍進(jìn)行測(cè)量，它利用物體具有不同的導(dǎo)電作用，在物體表面加一固定的低電平電流時(shí)，通過阻抗計(jì)算出物體的各種器件、設(shè)備參數(shù)和性能優(yōu)劣。日置/HIOKI 阻抗分析儀在測(cè)量中實(shí)現(xiàn)高速及高穩(wěn)定性兼顧，縮短間歇，提高產(chǎn)能。
日置阻抗分析儀能夠以測(cè)量結(jié)果為基礎(chǔ)推測(cè)5種等效電路模式的常數(shù)。 而且，可以通過模擬功能，使用推測(cè)結(jié)果或者任意的常數(shù)來顯示頻率特性的理想值。 此外，使用比較器功能，還能夠確定測(cè)量結(jié)果是否在判定區(qū)域內(nèi)。
日置阻抗分析儀投放市場(chǎng)后受到了廣大新老客戶的支持和好評(píng)，一臺(tái)儀器結(jié)合了LCR電橋測(cè)試儀和電阻計(jì)的多項(xiàng)功能，如今為了響應(yīng)更多用戶的實(shí)際需求，特別設(shè)計(jì)并推出了這款軟件IM9000。
