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美國(guó)泰克Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀
點(diǎn)擊次數(shù):1517 更新時(shí)間:2019-11-28

  使用 4200A-SCS 加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開(kāi)發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。高性能參數(shù)分析儀,提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測(cè)量。

 

  參數(shù)查看,快速清晰。

 

  大膽發(fā)現(xiàn)從未如此簡(jiǎn)單。 4200A-SCS 參數(shù)分析儀可將檢定和測(cè)試設(shè)置的復(fù)雜程度降低高達(dá) 50%,提供清晰且不折不扣的測(cè)量和分析功能。 另外,嵌入式測(cè)量專業(yè)知識(shí)可提供測(cè)試指南并讓您對(duì)結(jié)果充滿信心。

 

  特點(diǎn)

  內(nèi)置英語(yǔ),中文,日語(yǔ)和韓語(yǔ)版本的測(cè)量視頻

  使用數(shù)百個(gè)用戶可修改應(yīng)用測(cè)試開(kāi)始您的測(cè)試

  自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)

  測(cè)量、 切換、 重復(fù)。

  

Keithley 4200A-CVIV multi-switch on a wafer probe station

 

  4200A-CVIV 多通道切換模塊自動(dòng)在 I-V 和 C-V 測(cè)量之間切換,無(wú)需重新布線或抬起探頭端部。 與競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品不同,四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看,可快速完成測(cè)試設(shè)置,并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時(shí)輕松排除故障。

 

  特點(diǎn)

  無(wú)需重新布線即可將 C-V 測(cè)量移動(dòng)到任何設(shè)備終端

  用戶可配置低電流功能

  個(gè)性化輸出通道名稱

  查看實(shí)時(shí)測(cè)試狀態(tài)

 

  穩(wěn)定的低電流測(cè)量,適用于 I-V 檢定Making Stable Low Current Measurements on High Capacitance Test Connections Using the 4201-SMU and 4211-SMUPlay Video使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊,您可以在高電容系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的低電流測(cè)量。4200A-SCS 有四種型號(hào)的源測(cè)量單位 (SMU) 可供選擇,可通過(guò)定制滿足您所有的 I-V 測(cè)量需求。通過(guò)提供現(xiàn)場(chǎng)可安裝單元和可選的預(yù)放大器模塊,Keithley 可確保您獲得準(zhǔn)確的低電流測(cè)量,而停機(jī)時(shí)間很少甚至沒(méi)有。

 

  使用 4201-SMU 和 4211-SMU,通過(guò)高測(cè)試連接電容進(jìn)行穩(wěn)定的低電流測(cè)量

 

  特點(diǎn)

  不必將儀器送回工廠即可增加 SMU

  進(jìn)行 飛安測(cè)量

  多達(dá) 9 個(gè) SMU 通道

  針對(duì)長(zhǎng)電纜或大卡盤(pán)進(jìn)行了優(yōu)化

  帶分析探測(cè)器和低溫控制器的集成解決方案。

 

Keithley 4200A-SCS parameter analyzer in front of wafer probe station

 

  4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動(dòng)和半自動(dòng)晶片探測(cè)器和低溫控制器,包括 MPI Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

 

  特點(diǎn)

  “點(diǎn)擊”測(cè)試定序

  “手動(dòng)”探測(cè)器模式測(cè)試探測(cè)器功能

  假探測(cè)器模式無(wú)需移除命令即可實(shí)現(xiàn)調(diào)試

  降低成本并保護(hù)您的投資

 

通過(guò) Keithley 保障計(jì)劃保護(hù)您的投資