高頻阻抗分析儀測(cè)試結(jié)果一目了然
點(diǎn)擊次數(shù)：673 更新時(shí)間：2020-06-23
高頻阻抗分析儀測(cè)試結(jié)果一目了然 — CITS自動(dòng)處理數(shù)據(jù)，清楚顯示隨距離而變的特征阻抗，給出通過(guò)/失敗狀態(tài)。自動(dòng)數(shù)據(jù)記錄功能讓你能夠?qū)y(cè)試結(jié)果（連同系統(tǒng)設(shè)置數(shù)據(jù)和測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)）導(dǎo)出到多種第三方數(shù)據(jù)庫(kù)或電子表格軟件包，進(jìn)行實(shí)時(shí)統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制。還可以通過(guò)儀器背板上的光隔離信號(hào)使用每次測(cè)試的通過(guò)/失敗狀態(tài)，便于與其他工廠自動(dòng)化設(shè)備集成在一起。
高頻阻抗分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
1.可進(jìn)行較高3GHz的穩(wěn)定的高頻測(cè)量
的測(cè)量頻率是1MHｚ～3GHz。在改變頻率的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量的分析儀的模式下寬頻帶的話則可以進(jìn)行偏差較小的穩(wěn)定的阻抗評(píng)估，因此能夠從電子元件的開(kāi)發(fā)到生產(chǎn)線上等各種領(lǐng)域內(nèi)使用。
至短0.5ms的高速測(cè)量，有助于提高生產(chǎn)性
至短0.5ms（0.0005秒）的高速測(cè)量。因此，對(duì)于希望能夠快速檢查大量電子元件的生產(chǎn)廠家來(lái)說(shuō)，大幅提高了生產(chǎn)效率。
2.主機(jī)尺寸小巧，降低生產(chǎn)成本
可以實(shí)現(xiàn)為了提高空間效率的檢查系統(tǒng)的小型化，以及通過(guò)同時(shí)安裝多臺(tái)來(lái)縮短檢查時(shí)間，從而降低生產(chǎn)成本。而且，這類(lèi)測(cè)量?jī)x器非常的輕巧方便攜帶，能夠在研發(fā)、品保、生產(chǎn)線等多種場(chǎng)合同時(shí)使用，放在桌上也不會(huì)占太多空間。
3.各種判定功能，判斷合格與否
單一頻率測(cè)量的LCR測(cè)試儀模式下，有判斷電子元件合格與否的比較器功能、挑選電子元件的BIN功能。比較器功能是設(shè)置上下限值，并以其為判斷標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行合格與否的判斷。相對(duì)于以1個(gè)判斷標(biāo)準(zhǔn)判斷合格與否的比較器功能，BIN功能至多可以設(shè)置10種判斷標(biāo)準(zhǔn)，并進(jìn)行排名。
多種頻率測(cè)量的分析模式下，有從電子元件的頻率特性中能判斷合格與否的區(qū)域判定、峰值判定。區(qū)域判定是確認(rèn)測(cè)量值是否進(jìn)入任意設(shè)置的判定區(qū)域內(nèi)的功能。峰值判定是判定共振點(diǎn)的功能。
另外，還具有任意設(shè)置多種頻率，并以此設(shè)定值為基礎(chǔ)判斷合格與否的點(diǎn)判斷功能。
高頻阻抗分析儀檢定系統(tǒng)適用于射（高）頻集總參數(shù)阻抗計(jì)量器具（即檢測(cè)20kHz-1GHz頻段的R，L，C元件和材料電磁特性所有物儀器設(shè)備和量具、標(biāo)準(zhǔn)件），規(guī)定了射頻（習(xí)慣上也稱(chēng)高頻）集總參數(shù)阻抗量的量值溯源途徑、傳遞程序及計(jì)量器具的檢定方法。
