高頻阻抗分析儀使用期間需避免用測(cè)試引線連接被測(cè)件
點(diǎn)擊次數(shù)：462 更新時(shí)間：2021-07-22
高頻阻抗分析儀的檢定系統(tǒng)適用于射（高）頻集總參數(shù)阻抗計(jì)量器具（即檢測(cè)20kHz-1GHz頻段的R，L，C元件和材料電磁特性所有物儀器設(shè)備和量具、標(biāo)準(zhǔn)件），規(guī)定了射頻（習(xí)慣上也稱高頻）集總參數(shù)阻抗量的量值溯源途徑、傳遞程序及計(jì)量器具的檢定方法。在信息化發(fā)展的現(xiàn)在，智能手機(jī)等移動(dòng)設(shè)備能夠適用于LTE、Wi-Fi、GPS等，而高頻化的發(fā)展也讓其帶寬達(dá)到數(shù)GHz。同時(shí)，移動(dòng)設(shè)備中所使用的高頻感應(yīng)器或鐵氧體磁珠之類的電子元件也趨于高頻化。這些電子元件需要按照從數(shù)百M(fèi)Hz到數(shù)GHz的高頻來進(jìn)行特性評(píng)估，所以高頻的測(cè)量儀器的需求也隨之增加。
高頻阻抗分析儀注意事項(xiàng)：
儀器一開機(jī)預(yù)熱工作期間,儀器的A和B窗口一直顯示固定符號(hào)。在預(yù)熱時(shí)間完成之前如果按下任何鍵后,儀器會(huì)在測(cè)試頻率顯示窗口顯示錯(cuò)誤信息E-07若再按下任意一個(gè)參數(shù)鍵,儀器進(jìn)入初始測(cè)量設(shè)置狀態(tài)。
實(shí)踐證明,如果此時(shí)對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)和測(cè)量,或儀器再預(yù)熱10 min后進(jìn)行校準(zhǔn)和測(cè)量,測(cè)試值和夾具的初始值在較低頻點(diǎn)會(huì)出現(xiàn)測(cè)值不穩(wěn)定的情況,但出現(xiàn)測(cè)試頻率增大時(shí),測(cè)量值和夾具的初始值還是穩(wěn)定的。如果在這種情況下進(jìn)行測(cè)量,測(cè)量值可能是不可靠的。這時(shí)用終端阻抗50 Ω接在APC-7接頭進(jìn)行核校測(cè)量,會(huì)發(fā)現(xiàn)他在測(cè)試頻率1～1000 MHz范圍內(nèi)各頻率點(diǎn)間的測(cè)量偏差很大,頻率響應(yīng)很不好。這就是由于提前中斷預(yù)熱,造成發(fā)生校準(zhǔn)失敗,測(cè)值不準(zhǔn)的情況。所以要正確使用盡量避免以上情況發(fā)生。
再需要說明的是,高頻阻抗分析儀在測(cè)試夾具端口的初始值是與頻率密切相關(guān)的,在某頻率點(diǎn)的試樣的測(cè)量值要減去本頻率點(diǎn)的夾具的初始值;在測(cè)量夾具的短路初始值時(shí),要使用盡可能短而硬的短路片。盡量避免用測(cè)試引線連接被測(cè)件。
