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外加電壓限制功能能輕松測量極小電子元件(0201尺寸)    

通過將測量時的外加電壓限制在5V以下，額定電壓較小的0201尺寸的原件無需外加壓力即可進行測量。 

   

快速、準確的接觸，接觸改善功能    

與測試物接觸時，可以刺破探頭和測試物之間的氧化膜和污垢，改善接觸狀態(tài)。通過改善接觸不良實現(xiàn)穩(wěn)定測量，而且能降低接觸錯誤率，從而提供生產(chǎn)效率。 

   

針對低功率測量的接觸改善功能    

進行接觸改善時，通過控制流出測試物中的沖擊電流，可以將接觸改善的使用范圍擴大至小型的鐵氧體磁珠或0201尺寸的極小電阻檢查中。 

   

使用縮放功能可以補償并測量實際安裝狀態(tài)    

通過縮放功能， 實際安裝時和單獨下能夠補償檢查時的電阻值的差異(探測位置的影響等)。在進行分流等低電阻的電流檢測電阻的檢查發(fā)揮作用。