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HORIBA熒光及吸收光譜儀Duetta概述
一臺光譜儀同時完成熒光和吸收光譜的采集
Duetta 可作為熒光光譜儀使用，也可以作為UV-Vis-NIR 光譜儀測量吸光度，或用于測量真正的分子指紋，這需要同步獲取熒光和吸光度，同時進行內(nèi)濾效應校正。
瞬間獲得熒光光譜
Duetta 標配超快*CCD 技術，讓它在采集速度的數(shù)倍優(yōu)于任何使用PMT 的熒光光譜儀。Duetta 是一款能在100 毫秒內(nèi)獲得250nm-1100nm 校正光譜信息的一體式熒光光譜儀。這一CCD 技術也將近紅外檢測光譜范圍擴展到1100 nm，遠超過標準PMT 熒光儀的光譜范圍。
高靈敏度
經(jīng)過優(yōu)化設計的Duetta，擁有高水平的靈敏度，意味著可測更低濃度的樣品，并提供更準確的數(shù)據(jù)
EzSpecTM 觸屏操作軟件
Duetta 使用HORIBA 新一代EzSpec 軟件，使熒光光譜儀從此進入了智能觸屏時代，生動立體的人機互動，用戶體驗感前所WEI有；升級常規(guī)分析用軟件模塊，可具有定制化、個性化分析測試。
創(chuàng)新點
（1）配有吸收檢測器，吸收和熒光可同步檢測，一鍵校正內(nèi)濾效應。
（2）熒光檢測器為CCD檢測器，掃描速度快，光譜掃描范圍寬，上限到達1100nm
（3）操作簡單，包括光源預準直，自動更換光源，自動加樣端口等
HORIBA熒光及吸收光譜儀Duetta特點
★ 同步吸收- 熒光光譜儀
★ UV-Vis-NIR 熒光檢測波長范圍250 nm-1100 nm
★ 一秒內(nèi)獲取三維熒光全譜
★ 超高熒光靈敏度，水拉曼RMS 6000:1
★ 自動校準主次內(nèi)濾效應
★ A-TEEM TM 指紋熒光技術，高保真識別分子指紋
★ CCD 檢測器實現(xiàn)毫秒內(nèi)完成整個熒光光譜采集
