日置阻抗分析儀支持各類生產(chǎn)線的測(cè)量模式
點(diǎn)擊次數(shù)：1966 更新時(shí)間：2018-02-09
日置阻抗分析儀具備豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定），使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小，另外主機(jī)不帶測(cè)試治具，需要使用阻抗分析儀的測(cè)試治具。日置阻抗分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量。
日置阻抗分析儀的詳細(xì)介紹：
1.1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查
2.LCR模式下zui快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量
3.基本精度±0.08%的高精度測(cè)量
4.適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量，分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量
日置阻抗分析儀主要用途:
電子元件廠商的電子元件的出貨檢查
電子元件廠商的電子元件的驗(yàn)收和特性評(píng)估
日置阻抗分析儀支持各類生產(chǎn)線的測(cè)量模式；智能實(shí)現(xiàn)正確測(cè)量·分析的各種功能和大小：適用于研究開(kāi)發(fā)用途的測(cè)量功能，半機(jī)架大小和舒適的操作提高產(chǎn)量，接觸檢查功能(DCR測(cè)量和Hi Z篩選)。日置阻抗分析儀能在阻抗范圍和寬頻率范圍進(jìn)行測(cè)量，它利用物體具有不同的導(dǎo)電作用，在物體表面加一固定的低電平電流時(shí)，通過(guò)阻抗計(jì)算出物體的各種器件、設(shè)備參數(shù)和性能優(yōu)劣。日置阻抗分析儀在測(cè)量中實(shí)現(xiàn)高速及高穩(wěn)定性兼顧，縮短間歇，提高產(chǎn)能。
