日置阻抗分析儀的檢查速度比以往的分析儀提高了兩倍
點(diǎn)擊次數(shù)：1786 更新時(shí)間：2018-07-13
日置阻抗分析儀高速、高穩(wěn)定測(cè)量，測(cè)量頻率1MHz~300MHz,基本精度±0.72%rdg，緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小，節(jié)省空間。豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定），使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。
日置阻抗分析儀特點(diǎn)：
1.不同測(cè)量條件下，1臺(tái)進(jìn)行高速測(cè)量
測(cè)量電容等零部件時(shí)，有時(shí)在不同條件下（頻率、電平）測(cè)量多種測(cè)量項(xiàng)目，1條生產(chǎn)線中需要多臺(tái)測(cè)量?jī)x器。IM3570可再不同測(cè)量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量，1臺(tái)儀器即可滿足所有要求。
2.檢查速度提高了2倍（跟以往型號(hào)相比）
和HIOKI的以往型號(hào)（3532-50）相比，大大縮短了測(cè)量時(shí)間。LCR模式下，以往機(jī)型一般需要5ms的測(cè)量時(shí)間，而IM3570的檢查速度提高了2倍。需要全數(shù)檢查電子零部件的生產(chǎn)線中，IM3570發(fā)揮了作用。
3.測(cè)量的反復(fù)精度提高了1位（※1mΩ，100次測(cè)量時(shí)）
功能性高分子電容在推進(jìn)低ESR化的同時(shí)，要求正確測(cè)量多個(gè)mΩ。IM3570在測(cè)量低阻抗時(shí)的精度比以往機(jī)型提高了1位，因此為用戶提供穩(wěn)定測(cè)量。
4.廣范圍的測(cè)量頻率
日置阻抗分析儀可在DC和4Hz～5Hz的范圍內(nèi)設(shè)置5位分辨率的頻帶（1kHz以下為0.01Hz分辨率）?？稍诮咏舱耦l率的測(cè)量和工作條件的狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)量和評(píng)價(jià)。
5.15種測(cè)量參數(shù)
可測(cè)量Z、Y等15種參數(shù)，并將需要的參數(shù)讀取至計(jì)算機(jī)中。
6.具備防止誤操作的接觸檢查功能
裝載了4端子測(cè)量、2端子測(cè)量的接觸檢查功能。防止在測(cè)量電極不接觸被測(cè)物的狀態(tài)下測(cè)量的情況，因此可以避免出現(xiàn)未檢查的產(chǎn)品出廠。
7.廣范圍的測(cè)量電壓/電流
外加一般的開(kāi)路信號(hào)發(fā)生，可在恒壓/恒流模式下進(jìn)行考慮到電壓/電流依存性的測(cè)量?？稍O(shè)置廣范圍的、5mV~5V/10μA~50mA（~1MHz）以下的測(cè)量信號(hào)電平。
8.測(cè)試線可延長(zhǎng)至4m
4端子的構(gòu)造可降低測(cè)試線的影響，測(cè)試線長(zhǎng)達(dá)4m仍可保證精度。從而便于自動(dòng)設(shè)備的配線。
日置阻抗分析儀在信息化發(fā)展的今天，為了收發(fā)大容量的數(shù)據(jù)，高速差分傳輸?shù)葌鬏斁€也在高速發(fā)展之中。這類高速傳輸線的延遲時(shí)間偏差的改善和干擾對(duì)策中所使用的共模濾波器及鐵氧體磁珠等電子元件也隨之向高頻化發(fā)展。
