高頻阻抗分析儀廣泛應用于電子元器件
點擊次數(shù)：979 更新時間：2021-05-14
高頻阻抗分析儀是廣泛應用于電子元器件、電子材料的高頻特性測量，以及電路和天線輸入輸出阻抗的測量。測量準確度實際上取決于使用校準終端的準確度和校準的正確性。
高頻阻抗分析儀的維護：
注意不要把已充電的電容器或內(nèi)部電路作為被測件，防止損壞儀器。
終端用后保持連接套筒螺絲伸出，以防終端表面損壞。
測試端口在平時不測量時用保護套套上。
儀器的測試端口表面、終端、夾具需要保持不受灰塵、油等的污染，以免接口接觸不良，還需定期用揮發(fā)性的溶劑清洗或使用棉絨布擦拭。注意不要用四氯化碳、高濃度的乙醇等，接觸清洗液的時間要盡可能短。
對儀器需要外送進行檢定時，建議條件允許，請檢定機構(gòu)上門服務（因標準便于攜帶），減小儀器的振動。
高頻阻抗分析儀的技術(shù)要求與低頻阻抗測量儀在設計技術(shù)上使用電路及機械結(jié)構(gòu)等方面明顯不同（包括測試電纜，自動平衡電橋和其他電路設計）。殘余阻抗，相位漂移，傳輸損耗和“集總常數(shù)測量電路”結(jié)構(gòu)容易產(chǎn)生有害的影響，在高頻矢量測量中是無法確定的因素。
而且這些影響隨測試頻率升高而增加，產(chǎn)生明顯的測量誤差，至使測量范圍變窄。這樣，在高頻范圍矢量測量中方便的方法是用“分布常量測量電路“其優(yōu)點是可以實現(xiàn)在寬的頻率范圍內(nèi)電路性能不變，測量電路檢測的矢量信號能用簡單的數(shù)學式精密表示。將信號加到連接在測試端口的試樣上，檢測試樣反射波與入射波的矢量電壓比來測量反射系數(shù)，通過反射系數(shù)與阻抗的關(guān)系導出試樣要求的參數(shù)，代替了低頻阻抗儀器的矢量電壓電流比率的測量方法。
