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　　高頻LCR測(cè)試儀，L：電感（為了紀(jì)念物理學(xué)家Heinrich Lenz），C：電容(Capacitor)，R：電阻(Resistance)，LCR數(shù)字電橋就是能夠測(cè)量電感，電容，電阻，阻抗的儀器。隨著現(xiàn)代模擬和數(shù)字技術(shù)的發(fā)展，早已經(jīng)淘汰了LRC電橋這種測(cè)量方法，但LCR電橋的叫法一直沿用至今。如果是使用了微處理器的LCR電橋則叫LCR數(shù)字電橋。一般用戶又稱這些為：LCR測(cè)試儀、LCR電橋、LCR表、數(shù)字電橋、LCR Meter等等。

　　高頻LCR測(cè)試儀原理：

　　Vx與Vr均是矢量電壓表，Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是：當(dāng)DUT(Device Under Test)接入電路時(shí)，放大器的負(fù)反饋配置自動(dòng)使得OP輸入端虛地。Vx準(zhǔn)確測(cè)定DUT兩端電壓（DUT的Low電位是0），Vr與Rr測(cè)得DUT電流Ix，由此可計(jì)算Zx。

　　HP4275的測(cè)試端Hp,Hc,Lp,Lc（下標(biāo)c代表current, 下標(biāo)p代表Potentail)，Guard（接地)的配置可導(dǎo)致測(cè)試的誤差的差異。

　　提高精度的方法是: 1,Hp,Lp,Hc,Lc盡量接近DUT; 2,減小測(cè)試電流Ix的回路面積&磁通量（關(guān)鍵是分析Ix，要配合使用Guard與Cable回路面積);3,使用Gurard與Cable構(gòu)建地平面中斷信號(hào)線間的電場(chǎng)連接，雖然會(huì)增加信號(hào)線的對(duì)地電容（對(duì)地電容不影響測(cè)試結(jié)果），但是會(huì)減少信號(hào)線的互容。

　　Guard與Cable的對(duì)地寄生阻抗（Zhg,Zlg) 不影響測(cè)試結(jié)果，電橋平衡時(shí)Zlg的兩端電壓是0，流向Rr的電流不會(huì)被Zlg分流，Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測(cè)量。

　　高頻LCR測(cè)試儀一般用于測(cè)試電感和電容。使用時(shí)先設(shè)置測(cè)試頻率；測(cè)試電壓或者電流水平；選擇測(cè)試參數(shù)，比如Z、Q、LS（串聯(lián)電感）、LP（并聯(lián)電感）、CS(串聯(lián)電容）、CP（并聯(lián)電容）、D等；儀器校準(zhǔn)，校準(zhǔn)主要進(jìn)行開(kāi)路、短路校準(zhǔn)，儀器要進(jìn)行負(fù)載校準(zhǔn)；選擇測(cè)試夾具；夾具補(bǔ)償；再將DUT放在夾具上開(kāi)始測(cè)試即可。