高頻阻抗分析儀的基本測(cè)量方法
點(diǎn)擊次數(shù)：770 更新時(shí)間：2022-03-28
高頻阻抗分析儀的技術(shù)要求與低頻阻抗測(cè)量?jī)x在設(shè)計(jì)技術(shù)，使用電路及機(jī)被結(jié)構(gòu)等方面明顯不同（包括測(cè)試電纜，自動(dòng)平衡電橋和其他電路設(shè)計(jì)）。殘余阻抗，相位漂移，傳輸損耗和“集總常數(shù)測(cè)量電路”結(jié)構(gòu)容易產(chǎn)生有害的影響，在高頻矢量測(cè)量中是無(wú)法確定的因素。而且這些影響隨測(cè)試頻率升高而增加，產(chǎn)生明顯的測(cè)量誤差，至使測(cè)量范圍變窄。這樣，在高頻范圍矢量測(cè)量中方便的方法是用“分布常量測(cè)量電路”。其優(yōu)點(diǎn)是可以實(shí)現(xiàn)在寬的頻率范圍內(nèi)電路性能不變，測(cè)量電路檢測(cè)的矢量信號(hào)能用簡(jiǎn)單的數(shù)學(xué)式準(zhǔn)確表示。
高頻阻抗分析儀的基本測(cè)量操作是：
（1）按下電源開關(guān)鍵后，儀器A顯示部分指示HP一IB地址，B顯示部分指示選配件通告符號(hào)（如hr），此時(shí)儀器在進(jìn)行溫度控制電路的穩(wěn)定，內(nèi)部定時(shí)器延時(shí)工作10min，預(yù)熱工作期間，儀器連續(xù)顯示以上符號(hào)。進(jìn)行10min預(yù)熱后，自動(dòng)轉(zhuǎn)到測(cè)試狀態(tài)。
?。?）如果要求測(cè)試精度，最少預(yù)熱40min。之后使用參考終端阻抗在APC-7同軸接頭對(duì)儀器進(jìn)行初始校準(zhǔn)，來(lái)消除儀器的系統(tǒng)誤差對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。本身的校準(zhǔn)件分別為：OQ的短路器，OS的開路器，50Ω的負(fù)載終端。首先注意上校準(zhǔn)件前一定要保證儀器的測(cè)量端APC-7精密測(cè)頭的清潔和干燥，然后按照自動(dòng)校準(zhǔn)的程序依次接入相應(yīng)的終端，在使用頻率范圍內(nèi)進(jìn)行校準(zhǔn)。測(cè)量準(zhǔn)確性實(shí)際上取決于使用校準(zhǔn)終端的準(zhǔn)確性，即由校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性控制。所以一定不能忽視測(cè)量前的儀器校準(zhǔn)這一過程。
（3）根據(jù)被測(cè)件的形狀和測(cè)試頻率選擇合適的測(cè)試夾具，裝上夾具后，設(shè)置測(cè)試條件，必須同時(shí)輸入與測(cè)試夾具相應(yīng)的電長(zhǎng)度值（這是為了修正夾具對(duì)反射系數(shù)及相位的影響）。在實(shí)際測(cè)試中，夾具固有的殘余參量引起的測(cè)量誤差應(yīng)予以考慮，確保測(cè)量的準(zhǔn)確性，夾具參量必須進(jìn)行修正，他的影響在高頻段明顯。
